電子成像 選購指南
深圳專業(yè)掃描電子顯微鏡+X射線能譜儀(SEM+EDS
產(chǎn)品特點 掃描電子顯微鏡+X射線能譜儀(SEM+EDS) 掃描電子顯微鏡利用二次電子或背散射電子成像，對樣品表面放大一定的倍數(shù)進行形貌觀察，最大放大倍數(shù)可達(dá)30萬倍，同時利用電子激發(fā)出樣品表面的特征X射線來對微區(qū)的成分進行定性定量分析 測試范圍： SEM的二次電子成像分辨率約3nm 背散射電子成像分辨率約300nm EDS成分分析的元素......
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