內阻電壓 選購指南
BEST-300C高溫四探針電阻率測試儀
一.高溫四探針電阻率測試系統概述: 采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統與高溫箱結合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對數據的處理和測量控制,解決半導體材料的電導率對溫度變化測量要求,軟件實時繪制出溫度與電阻,電阻率,電導率數據的變化曲線圖譜,及過程數據值的報表分析. 二.BEST-300C高溫四探針電阻率測試儀適用行業:: 用于:企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子......