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所有分類下結果轉讓美國進口愛克賽EKSI不間斷電源UPS
[中介]●EK800三進三出系列UPS，容量從10KVA到160KVA。該系列產品采用先進的數字化設計，高速十六為數字芯片和ASIC的DDC控制技術與獻技的大功率器件IGBT及SCR完美組合，設計出大容量、高可靠性及卓越性能的智能化
[北京 電源]
無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測試系統
[中介]PV-1000系列無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測試系統為太陽能/光伏硅片及其他材料提供快速、多通道的厚度、（總厚度變化）TTV、翹曲及無接觸電阻率測量功能。并提供基于TCP/IP的數據傳輸接口及基于Windows的控
硅片厚度測厚儀
[中介]硅片測厚儀(HS-WTT)
適用于量程范圍內的硅片等各種材料的厚度精確測量。
特征
液晶顯示
接觸式測量
手動測量模式
數據實時顯示
具有輸出接口，可選配適配器實現232接口功能
技術指標
測
無接觸體電阻率型號測試儀
[中介]產品介紹
HS-TRM-100型無接觸式電阻率型號測試儀是基于渦流（Eddy Current）測試技術，能夠對硅料、硅棒、硅錠及硅片進行無接觸、無損傷的體電阻率測試。
無接觸厚度TTV電阻率綜合測試系統
[中介]HS-T50無接觸厚度TTV電阻率綜合測試系統是一款廣泛應用于太陽能電池片制造過程中對表面厚度TTV電阻率無損測量的專業儀器。該儀器適用于Si，GaAs，InP，Ge等幾乎所有的材料，所有的設計都符合ASTM(美國材料
單點少子壽命測試儀
[中介]HS-CLT少子壽命測試儀是一款功能異常強大的少子壽命測試儀，不僅適用于硅片少子壽命的測量，更適用于硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規則形狀硅少子壽命的測量。少子測試量程從1μs到2000
硅材料綜合測試儀
[中介]硅料綜合測試儀HS-PSRT
本儀器是運用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導體及太陽能行業的篩選。
硅料綜合測試儀 - 產品特點
■ 同時檢
無接觸少子壽命掃描儀
[中介]HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強大的無接觸少子壽命掃描儀，能夠對單晶硅棒、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試，其通過微波光電衰退特性原理來測量非平
硅片表面線痕深度測試儀
[中介]HS-SRT-301型硅片線痕深度測試儀可用于測試硅片的表面線痕深度，具有便于攜帶、觸摸屏便捷操作、液晶顯示、節能等優點，同時內置打印機和充電電池，所有設計均符合JIS,DIN,ISO,ANSI等標準。
半自動硅片厚度TTV測試儀
[中介]特征
■適用于硅片等各種材料的厚度TTV精確測量
■測量范圍：0～2mm
■分辨率：0.1μm
■微電腦控制、液晶顯示
■菜單式界面、PVC面板操作
■接觸式測量
■測頭自動升降
■手動、自動雙重測量模式
