半導體HAST高壓加速老化試驗箱 壹叁伍 叁捌肆陸 玖零柒陸 臨界點LIMIT方式自動An全保護，異常原因與故障指示燈顯示。利型packing，箱內壓力愈大時，packing會有反壓會使其與箱體更緊密結合，與傳統擠壓式完全不同，可延長packing壽命。

半導體HAST高壓加速老化試驗箱技術參數：

型號 ：HAST-35  HAST-45  HAST-55  HAST-65  

內箱尺寸(㎝)：Φ35×45  Φ45×55  Φ55×65  Φ65×75 

溫度範圍：100℃～135℃

濕度範圍：100%RH飽和蒸汽

壓力範圍： 大氣壓+0～4㎏/cm2  大氣壓+0～4㎏/cm2  大氣壓+0～4㎏/cm2   大氣壓+0～4㎏/cm2

參考標準：完全依據國標、行業標準等

備註：可根據客戶要求定制相應尺寸

半導體HAST高壓加速老化試驗箱產品特點：

1．試驗過程自動運轉至完成結束、使用簡便。

2．雙重過熱保護裝置，當鍋內溫度過高時，機器鳴叫警報并自動切斷加熱電源。

3．ED數字型溫度控制器可作Jing確試驗溫度之設定、控制及顯示，PID控制誤差±0.1℃。

4．ED數字型計時器，當鍋內溫度到達后才開始計時以確保試驗完全。

5．Jing準的壓力、溫度對照顯示。

6．運轉時流水器自動排出未飽和蒸汽以達到佳蒸汽品質。

7．試驗過程中水位不足時能自動補充水位之功能，試驗不中斷，確保使用An全。

8．鍋內An全裝置，鍋門若未關緊則機器無法啟動。

9．An全閥，當鍋內壓力超過大工作值自動排氣泄壓。

10．門蓋保護，ABS材質製成可防止操作人員接觸燙傷。

11．一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長。

半導體HAST高壓加速老化試驗箱注意事項：

1、在無試驗負荷、無層架情況下穩定30分鐘后測定的性能。

2、關于溫度上升及下降時間是指風冷式在周圍環境溫度為26℃±5℃,時所測量的性能。

3、溫濕度傳感器設置于空調箱出風口處。

4、溫濕度均勻度定義為：實驗室幾何中心點處，溫濕度時的所測之資料。

5、以上數據性能，測量，計算方法參照GB5170、2、GB5170、5的方法測定。

半導體HAST高壓加速老化試驗箱產品用途：

    半導體HAST高壓加速老化試驗箱又稱高壓加速老化試驗機，廣泛應用于線路板，多層線路板，IC，CD，磁鐵等產品之密封性能的檢測，測試其製品的耐厭性，氣密性。