l       簡介

t   結(jié)構(gòu)優(yōu)化設(shè)計研究的歷史發(fā)展

ü       結(jié)構(gòu)優(yōu)化設(shè)計的分類和層次

ü       結(jié)構(gòu)優(yōu)化的發(fā)展

t   連續(xù)體結(jié)構(gòu)拓撲優(yōu)化的研究進展

ü       連續(xù)體結(jié)構(gòu)拓撲優(yōu)化的數(shù)值方法

ü       連續(xù)體結(jié)構(gòu)拓撲優(yōu)化的求解方法

t   數(shù)學規(guī)劃概念與算法

ü       結(jié)構(gòu)優(yōu)化設(shè)計的三要素

ü       數(shù)學規(guī)劃模型

ü       線性規(guī)劃

ü       二次規(guī)劃

ü       庫恩 -塔克條件和對偶理論

ü       K-S函數(shù)方法

ü       廣義幾何規(guī)劃理論

ü       函數(shù)變換下的函數(shù)高階展式和單項高階縮并公式

l       ICM（獨立、連續(xù)、映射）方法的基礎(chǔ)

t   傳統(tǒng)拓撲優(yōu)化問題的困難

t   階躍函數(shù)和跨欄函數(shù)——構(gòu)造離散拓撲變量與單元性能關(guān)系的橋梁

t   根本性突破的關(guān)鍵——磨光函數(shù)逼近階躍函數(shù)和過濾函數(shù)逼近跨欄函數(shù)

ü       磨光函數(shù)

ü       過濾函數(shù)

ü       過濾函數(shù)使拓撲優(yōu)化的求解可以操作

ü       四個函數(shù)的相互關(guān)系

t   ICM方法及其應(yīng)用

ü       映射識別與全程識別量

ü       幾種典型的磨光函數(shù)和過濾函數(shù)

ü       各種性能識別的快慢和參數(shù)確定

ü       過濾函數(shù)中指數(shù)函數(shù)參數(shù)到對數(shù)函數(shù)參數(shù)的變換

ü       基于 ICM方法建立結(jié)構(gòu)拓撲優(yōu)化模型

ü       映射的反演

t   對磨光函數(shù)和過濾函數(shù)性能的深入探討

ü       劃分磨光函數(shù)（和過濾函數(shù)）的類型

ü       類型判別定理

ü       磨光函數(shù)與過濾函數(shù)的對應(yīng)定理

等....課程

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