干法激光粒度分析儀FT-6200
概述：
干法激光粒度分析儀FT-6200
一、
概述：
采用會(huì)聚光傅立葉變換測(cè)試技術(shù)，高穩(wěn)定光路，高穩(wěn)定、長(zhǎng)壽命的進(jìn)口氦-氖激光器，優(yōu)良的單色性，光路采取了
本信息已過(guò)期，發(fā)布者可在"已發(fā)商機(jī)"里點(diǎn)擊"重發(fā)"。
干法激光粒度分析儀FT-6200
一、 概述：
采用會(huì)聚光傅立葉變換測(cè)試技術(shù)，高穩(wěn)定光路，高穩(wěn)定、長(zhǎng)壽命的進(jìn)口氦-氖激光器，優(yōu)良的單色性，光路采取了全封閉設(shè)計(jì)，有較好的抗震效果，自由分布、R-R分布和對(duì)數(shù)正態(tài)分布；根據(jù)粒徑求百分比、根據(jù)百分比求粒徑或根據(jù)粒徑區(qū)間求百分比；中英文語(yǔ)言界面；PC軟件操作界面.
二、 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：
ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008
干法激
一、 技術(shù)參數(shù)資料
測(cè)試范圍：0.1μm -800μm
測(cè)試范圍 0.1μm -800μm
探測(cè)器通道數(shù) 76
準(zhǔn)確性誤差 <1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值）
重復(fù)性誤差 <1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值）
喂料方式 具備免排氣泡設(shè)計(jì)，無(wú)氣泡干擾數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確
誤操作保護(hù) 儀器具備誤操作自我保護(hù)功能，儀器對(duì)誤操作不響應(yīng)
激光器參數(shù) 進(jìn)口半導(dǎo)體激光器 λ= 650nm, p>10mW
分散方法 高壓空氣分散
測(cè)試速度 <1min/次（不含樣品分散時(shí)間）
光粒度分析儀FT-6200
- qinzeng0303發(fā)布的信息
- FZS4-4經(jīng)濟(jì)型振實(shí)密度儀熱賣(mài)
- 該儀器是采用一種靠偏心輪的轉(zhuǎn)動(dòng)使定向滑桿上下滑動(dòng)，敲擊鉆座，使量筒內(nèi)粉末逐漸被振實(shí)的裝置，主要用于各種形狀粉末振實(shí)密度的測(cè)定，對(duì)非金屬粉末也可借鑒使用...
- ROOKO電阻儀標(biāo)準(zhǔn)電阻塊
- 標(biāo)準(zhǔn)電阻主要用于四端接線(xiàn)法電阻儀生產(chǎn)企業(yè)或者電阻儀使用者，長(zhǎng)期對(duì)儀器進(jìn)行校正和標(biāo)定，減少儀器故障誤差或者因儀器老化帶來(lái)的精度下降，通過(guò)使用標(biāo)準(zhǔn)電阻能及時(shí)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，并減少因此誤差帶來(lái)的損失，...
- 高溫粉末電阻率測(cè)試系統(tǒng)
- FT-354高溫粉末電阻率測(cè)試系統(tǒng) 一、概述：本機(jī)提供一種在高溫環(huán)境下測(cè)試粉體材料電性能，分析粉體在高溫環(huán)境下電阻，電阻率（電導(dǎo)率），與壓強(qiáng)和溫度的實(shí)時(shí)變化關(guān)系，能模擬粉體本身在使用環(huán)境和...
- 濕法激光粒度測(cè)試儀FT-6100
- 濕法激光粒度測(cè)試儀FT-6100 采用高精度集成電路控制系統(tǒng)，進(jìn)口半導(dǎo)體激光器，壽命長(zhǎng)，單色性好；全Mie散射理論及H.Golub分布反演算法，反傅立葉光學(xué)變換設(shè)計(jì)，穩(wěn)定的光電接收系統(tǒng). 內(nèi)置超聲、...
- 粉體接觸角測(cè)試儀FT-5100
- 粉體接觸角測(cè)試儀FT-5100 一、概述： ...
- FT-3700多環(huán)境粉體流變分析系統(tǒng)
- FT-3700多環(huán)境粉體流變分析系統(tǒng) 一、描述： 我們?cè)诙喹h(huán)境狀態(tài)下分析粉體的流變特性，這些環(huán)境涉及到粉體的方方面面，比如加工工藝過(guò)程中的管道傳輸中的氣流高溫；存儲(chǔ)中粉體內(nèi)聚能量及外部的高溫...
過(guò)氧化物重發(fā)信息
