蔡司聚焦離子束掃描電鏡FIB Crossbeam
概述：蔡司聚焦離子束掃描電鏡FIB Crossbeam系列的FIB-SEM結(jié)合了場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)出色的成像和分析性能，和新一代聚焦離子束(FIB)優(yōu)異的加工性能。無論是在科研或是工業(yè)實(shí)驗(yàn)室，您都可以在一臺設(shè)備上
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蔡司聚焦離子束掃描電鏡FIB Crossbeam系列的FIB-SEM結(jié)合了場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)出色的成像和分析性能，和新一代聚焦離子束(FIB)優(yōu)異的加工性能。無論是在科研或是工業(yè)實(shí)驗(yàn)室，您都可以在一臺設(shè)備上實(shí)現(xiàn)多用戶同時(shí)操作。得益于蔡司Crossbeam系列模塊化的平臺設(shè)計(jì)理念，您可以根據(jù)自己需求的變化隨時(shí)升級儀器系統(tǒng)。在加工、成像或是實(shí)現(xiàn)三維重構(gòu)分析時(shí)，Crosssbeam系列都將大大提升您的應(yīng)用體驗(yàn)。
使用Gemini電子光學(xué)系統(tǒng)，您可以從高分辨率SEM圖像中提取真實(shí)樣本信息
使用新的Ion-sculptor FIB鏡筒以及全新的樣品處理方式，您可以大限度地提高樣品質(zhì)量、降低樣品損傷，同時(shí)大大加快實(shí)驗(yàn)操作過程
使用Ion-sculptor FIB的低電壓功能，您可以制備超薄的TEM樣品，同時(shí)將非晶化損傷降到非常低
使用Crossbeam 340的可變氣壓功能
或使用Crossbeam 550實(shí)現(xiàn)更苛刻的表征，大倉室甚至為您提供更多選擇
EM樣品制備流程
按照以下步驟，高效率、高質(zhì)量地完成制樣
Crossbeam 為制備超薄、高質(zhì)量的TEM樣品提供了一整套解決方案，您可以高效地準(zhǔn)備樣品，并在TEM或STEM上實(shí)現(xiàn)透射成像模式的分析。
- yosoar發(fā)布的信息
- 高壓除泡機(jī)裝置ELT
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光學(xué)儀器重發(fā)信息
- 日本Nikon 尼康工具顯微鏡MM-400/800
- MD-1粉塵粒度分析儀
- NEST 100mm細(xì)胞培養(yǎng)皿，150mm,30mm,60mm
- 日本CARTON顯微鏡DSZ-44FTP-260含環(huán)形LED燈
- 供應(yīng)日本進(jìn)口CARTON DSZ-44PF型體視顯微鏡
- 日本Carton光學(xué)顯微鏡DSZ-44FT立柱型供應(yīng)
- KSI V300E V400E V700E V1000E 超聲波掃描顯微鏡
- 擦鏡紙,鏡頭擦拭紙
- 光學(xué)Carton工業(yè)顯微鏡XR1003-050 L型50倍原裝進(jìn)口
- 錫明光電供應(yīng)底部背光源
- 對氯苯酚
- 高倍立體照相顯微鏡（體視顯微鏡）
