硅片厚度 選購指南
進口無接觸硅片測試儀
產品介紹 手動硅片測試儀可以測量硅片厚度、總厚度變化TTV、彎曲度，該儀器適用于Si，GaAs，InP，Ge等幾乎所有的材料，所有的設計都符合ASTM(美國材料實驗協會)和Semi標準，確保與其他工藝儀器的兼容與統一。 硅片無接觸測試儀-產品特點 ■ 無接觸測量 ■適用的晶圓材料包括Si，GaAs，InP，Ge等幾乎所有的材料 ■ 厚度和TTV測量采用無接觸電容法探頭 ■ 高分辨率液晶屏顯示厚度和TTV值 ■ 性價比高 ■ 菜單式快速方便設置 ■ 高分辨率液晶......
電話：010-60546837 15910963468 肖宗鏞 
